SH-SOE测试仪
(  技术参数)
本仪器使用先进的ARM控制器,时间精度达0.1毫秒,上位机软件仅编辑时序数据,通过USB通讯给ARM控制器,ARM控制器实现时序脉冲发送。专用于DCS系统SOE通道精度测试。

技术参数:
通道数:8通道;
隔离:光电隔离,每个通道独立;
耐压:300VDC;
允许电流:不大于200mA;
设置最小时间间隔:0.1ms;
误差:不大于0.02ms;
每个通道可连续脉冲串数量:
200个 可输出时间范围:200×3000ms                               
运行环境要求:
操作系统:Win2000,WinXP,Vista;
USB1.0/2.0端口;
1 秒钟同步精度测试
    a) 在4个不同的DPU中各选一个DI通道,并通过组态,将其设为SOE通道。
    b) 用SOE测试仪(时间分辨率0.1ms)向步骤a)组态的4个通道发出如图1所示的脉冲长度为1000ms,触发时间一致的多路脉冲。
c) 检查事件打印记录,其时间误差应小于出厂保证的站间时间分辨力1ms。

2 SOE时间分辨率的测试
用SOE测试仪(时间分辨率0.1ms)发出如图3所示的脉冲长度为50ms,每路脉冲前后间隔一固定时间T的多路脉冲测试SOE的实际时间分辨率